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熱式氣體質量流(liú)量計恒功率(lǜ)法原理講解

作者(zhě): 国产麻豆免费在线儀表 編(biān)輯: 国产麻豆免费在线小編(biān) 來源: 熱式氣體質量流量計廠家 發(fā)布日期(qī): 2020.03.19
信息摘要:
氣體質量流量計可以對(duì)氣體的(de)質量流(liú)量進行精密測量和控製。它在多個領域的科研和生產中有(yǒu)著重要而廣泛的運(yùn)用本次要介紹(shào)一種熱式質(zhì)量流量計,它具(jù)有精度…

氣體質量流量計可以對氣體的質量流量進行精密測量和控製。它在多(duō)個領域的(de)科研和生產中(zhōng)有著重要而廣泛的運用;本次要介紹一種熱式質量流量計,它具有精度高,重複性好,響應速度快(kuài),軟啟動,穩定可靠,工作壓力範圍寬等特點。操作使用起來方便,可以任意位置安裝,配合流量顯示(shì)儀或其他流量控製顯示儀使(shǐ)用,相對其他流量計(jì)來說,熱式質量流量計能勝任大流(liú)量和高溫介質的測量工作要(yào)求(qiú)。

一、恒功率法

恒功率法(溫度測量法)是以恒定功率為鉑熱電阻提供熱量,使其加熱到高於氣體的溫度,流體流動帶走鉑熱電阻表麵一部分熱量,流量(liàng)越大(dà),溫度降越大(dà),測量隨流體流量変化的溫(wēn)度,可以反映氣體流量。有以下兩種實現方法:

(1)隻對一隻鉑電阻加熱,由熱擴散原理測量溫差

原理:與恒溫差式流(liú)量計的結構類似,在測量管路中同樣(yàng)加入兩個金屬鉑電阻,一個為用於測量被測流體溫度的測溫電阻,另一個(gè)為用於測量被(bèi)測流體速度的測速電阻。在加(jiā)熱(rè)器上加(jiā)上一個恒定的(de)功率對測速鉑電阻加熱,流體在靜(jìng)止時測速鉑電阻和測溫(wēn)鉑電阻表麵溫度差(chà)△T21=Ts2-Ts1 ZUI大,隨著介質的流(liú)動,兩個鉑電阻表麵溫度差減小。流體的流量越大,兩隻鉑電阻的溫(wēn)差越小。鉑電(diàn)阻連接在惠斯通電橋中,鉑電阻的溫度不同使鉑電(diàn)阻的電阻呈現不同阻值,從而使電橋(qiáo)不平衡,通過檢測電(diàn)橋的電壓差來反應流體流(liú)量。

熱式(shì)氣(qì)體質量流量計

該恒功率式質量流量計存(cún)在的問題:若流體的密度為p,流速為μ,加熱鉑電阻被流體帶走的熱量為Q,測溫鉑電阻和測速鉑電阻的溫度差為△T21,則(zé)有關係式:Q/△T21=k1+k2(p・u)k3式(shì)中對(duì)於組分一定的流體,k1、k2、k3為常數在橫截當S的(de)管路中,質量流量qm=p・u・S。測量過程中,測(cè)速鉑電阻被電流加熱,在熱(rè)平(píng)衡狀態下,電流的加熱功率與測速鉑電阻被帶走(zǒu)的熱量處於平衡狀態,即Q=I²·Rs2。因此質(zhì)量流量qm與Q/△T21成一一對應的關(guān)係,可表示為:qm=f[I²·R32/△T21]當加熱電流不變,通過測(cè)出流體的溫差△T21計算流體的質量流量時,忽略了測速鉑電阻Rs2隨溫度(dù)的變化,會造成誤差。

2)對兩隻對稱的鉑電阻進行加(jiā)熱,由熱平衡原理計算溫度差。

傳感器的結構是(shì)把兩個全相同的鉑電阻對稱的固定在熱源的兩側(cè),放置在流體中。采用一個恒流源(恒壓源(yuán))對熱源加(jiā)熱,流體流(liú)動使兩個(gè)鉑電阻的溫度不同。鉑(bó)電阻連接在惠斯通電橋中,鉑電阻的溫度不同使(shǐ)鉑電阻的電阻呈現不同(tóng)阻值,從而使電橋不平衡,通過檢測電橋的電壓來反應流體流量(liàng)。

現從傳熱學角度對(duì)該傳感器原理作進一步的分析。假定流體為均勻分(fèn)布的牛頓型流(liú)體,以一(yī)維測量為例:如圖(tú)1所示,熱源R置(zhì)於傳感器基片的中心,在其兩邊對稱地放(fàng)置兩個完全相同的溫度檢測芯片(薄膜式鉑電阻)S1和S2傳感器與流體之間的熱交換主要通過對流進行,熱源與溫度檢測芯片之(zhī)間的熱交換可通過傳導和對流進行。

當流體流速(sù)為零,即當流體處(chù)於靜止狀態時,表麵附近的流線場及主要由此產生的溫度場相(xiàng)對於熱源呈對稱分布。由於結構上的對稱性,通過基片(piàn)熱傳導進行的熱交(jiāo)換相(xiàng)對於熱源始終是對稱的。此時感溫芯片的鉑電阻溫度滿(mǎn)足Ts1=Ts2,即溫差:△T21=Ts2-Ts1=0。當流體流動時,流體和(hé)鉑電阻之間主要為對流換熱,由於(yú)局部對流換熱係數的不同,基片表麵附近的流線場及相應的溫度場(chǎng)相對於中心熱源的分布發(fā)生(shēng)變化,導致傾向性的不(bú)對稱分布。根據熱邊界層理論,可知,此(cǐ)時上遊溫度檢測芯片表麵冷卻速率高於下遊芯(xīn)片表麵,即鉑電阻S1的換熱係(xì)數大於S2是換熱係數,所以(yǐ)Ts2Ts,溫差溫度差(chà):△T21=Ts2-Ts1>0。且△T2的值隨流體流速的(de)増大而增大。如(rú)果改變流體流向,△T21亦相應改變符號利用熱平衡方程可(kě)以計算出因對流引起的芯片表麵的溫度再分布,獲(huò)得溫度差與流速(sù)的關係式。

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